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閥門TAT測(cè)試

殼牌閥門TAT測(cè)試要求的在低溫-常溫-高溫的循環(huán)試驗(yàn)、連環(huán)開(kāi)關(guān)試驗(yàn)、微泄露試驗(yàn)、扭矩測(cè)試等苛刻的測(cè)試和試驗(yàn),它的啟用對(duì)閥門在常溫、高溫、低溫、再常溫環(huán)境下及不同工作壓力下和啟閉循環(huán)次數(shù)下的泄漏情況進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)試和評(píng)價(jià)。閥門逸散試驗(yàn)、閥門低溫試驗(yàn)、閥門高溫試驗(yàn)、殼牌工業(yè)閥門型式試驗(yàn)(TAT)、天然氣閥門型式試驗(yàn)(GIS)、閥門失效分析、自動(dòng)閥門性能診斷試驗(yàn)等。隱石檢測(cè)咨詢電話:18921519533

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